Herstellerteilenummer | DS2174Q |
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Zukünftige Teilenummer | FT-DS2174Q |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | - |
DS2174Q Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Funktion | Enhanced Bit Error Rate Tester (EBERT) |
Schnittstelle | E1, J1, T1 |
Anzahl der Stromkreise | 1 |
Spannungsversorgung | 3V ~ 3.6V |
Strom - Versorgung | 50mA |
Leistung (Watt) | - |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 44-LCC (J-Lead) |
Supplier Device Package | 44-PLCC (16.59x16.59) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
DS2174Q Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | DS2174Q-FT |
XRT75L00DIVTR-F
MaxLinear, Inc.
XRT75L00IV
MaxLinear, Inc.
XRT75L00IV-F
MaxLinear, Inc.
XRT75L00IVTR-F
MaxLinear, Inc.
XRT75VL00DIV
MaxLinear, Inc.
XRT75VL00DIVTR
MaxLinear, Inc.
XRT75VL00DIVTR-F
MaxLinear, Inc.
XRT75VL00IV
MaxLinear, Inc.
XRT75VL00IV-F
MaxLinear, Inc.
XRT75VL00IVTR
MaxLinear, Inc.
XC3S2000-4FGG900C
Xilinx Inc.
M7A3P1000-2PQG208I
Microsemi Corporation
A3P060-1VQG100I
Microsemi Corporation
AGLN250V2-VQG100
Microsemi Corporation
EP3C16F484I7
Intel
5SGSMD6K3F40C3N
Intel
XC6VLX365T-L1FFG1156C
Xilinx Inc.
AGLP060V5-CSG289
Microsemi Corporation
LFEC1E-4QN208C
Lattice Semiconductor Corporation
EP2AGX65CU17I5N
Intel