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Herstellerteilenummer | HAT 800-S |
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Zukünftige Teilenummer | FT-HAT 800-S |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | HAT |
HAT 800-S Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Open Loop |
Strommessung | 800A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Voltage |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 25kHz |
Linearität | ±1% |
Richtigkeit | ±1% |
Spannungsversorgung | ±15V |
Reaktionszeit | 5µs |
Strom - Versorgung (max.) | 15mA |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 105°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Chassis Mount |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAT 800-S Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | HAT 800-S-FT |
CR4211S-5
CR Magnetics Inc.
CR4211S-50
CR Magnetics Inc.
CR4211S-70
CR Magnetics Inc.
CR4220S-10
CR Magnetics Inc.
CR4220S-15
CR Magnetics Inc.
CR4220S-25
CR Magnetics Inc.
CR4220S-30
CR Magnetics Inc.
CR4220S-40
CR Magnetics Inc.
CR4220S-50
CR Magnetics Inc.
CR4220S-75
CR Magnetics Inc.
XC2S150-5FG256I
Xilinx Inc.
XC7S25-1FTGB196I
Xilinx Inc.
XA7S50-2FGGA484I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
AFS090-1FG256
Microsemi Corporation
5SGXEA3K1F35C1N
Intel
EP2SGX90EF1152I4N
Intel
XC6SLX25T-2CSG324I
Xilinx Inc.
AX1000-FGG676M
Microsemi Corporation
LFE2-35SE-6F484I
Lattice Semiconductor Corporation