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Herstellerteilenummer | HTFS 400-P |
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Zukünftige Teilenummer | FT-HTFS 400-P |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | HTFS |
HTFS 400-P Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Open Loop |
Strommessung | 400A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Voltage |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 240kHz |
Linearität | ±0.5% |
Richtigkeit | ±1% |
Spannungsversorgung | 5V |
Reaktionszeit | 3.5µs |
Strom - Versorgung (max.) | 25mA |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 105°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HTFS 400-P Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | HTFS 400-P-FT |
F01P025S05
Tamura
F01P050S05
Tamura
F01P050S05L
Tamura
SI8501-B-GM
Silicon Labs
SI8501-C-GM
Silicon Labs
SI8501-C-IM
Silicon Labs
SI8502-C-GM
Silicon Labs
SI8502-C-IM
Silicon Labs
SI8502-C-IMR
Silicon Labs
SI8503-B-GM
Silicon Labs
XC2S150-5FG256I
Xilinx Inc.
XC7S25-1FTGB196I
Xilinx Inc.
XA7S50-2FGGA484I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
AFS090-1FG256
Microsemi Corporation
5SGXEA3K1F35C1N
Intel
EP2SGX90EF1152I4N
Intel
XC6SLX25T-2CSG324I
Xilinx Inc.
AX1000-FGG676M
Microsemi Corporation
LFE2-35SE-6F484I
Lattice Semiconductor Corporation