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Herstellerteilenummer | LA 25-NP/SP8 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-LA 25-NP/SP8 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | - |
LA 25-NP/SP8 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Closed Loop |
Strommessung | 2A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Current |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 150kHz |
Linearität | ±0.2% |
Richtigkeit | ±0.5% |
Spannungsversorgung | ±15V |
Reaktionszeit | 1µs |
Strom - Versorgung (max.) | 34mA |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 25-NP/SP8 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | LA 25-NP/SP8-FT |
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
HAL 400-S
LEM USA Inc.
HAL 600-S
LEM USA Inc.
HAL 100-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
HAL 500-S
LEM USA Inc.
HAL 200-S
LEM USA Inc.
EX64-TQ100
Microsemi Corporation
A54SX72A-FG484
Microsemi Corporation
A3P600-2FG256
Microsemi Corporation
MPF300TS-1FCVG484I
Microsemi Corporation
XA7S25-1CSGA324Q
Xilinx Inc.
A54SX32A-BG329M
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-4300C-5BG256I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO2280E-4M132C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX110DF31C7
Intel
EP3C40F324C6N
Intel