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Herstellerteilenummer | LA 305-S |
---|---|
Zukünftige Teilenummer | FT-LA 305-S |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | LA |
LA 305-S Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Closed Loop |
Strommessung | 300A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Current |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 100kHz |
Linearität | ±0.1% |
Richtigkeit | ±0.8% |
Spannungsversorgung | ±12V ~ 15V |
Reaktionszeit | 1µs |
Strom - Versorgung (max.) | 140mA |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Chassis Mount |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 305-S Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | LA 305-S-FT |
F01P025S05L
Tamura
F01P006S05L
Tamura
F01P015S05
Tamura
F01P006S05
Tamura
F01P025S05
Tamura
F01P050S05
Tamura
F01P050S05L
Tamura
SI8501-B-GM
Silicon Labs
SI8501-C-GM
Silicon Labs
SI8501-C-IM
Silicon Labs
XC4010XL-3PQ100C
Xilinx Inc.
XC4062XL-09HQ304C
Xilinx Inc.
A54SX32A-TQG176I
Microsemi Corporation
EP3SE110F1152I4L
Intel
XC6VLX195T-3FFG1156C
Xilinx Inc.
A54SX16A-TQG100M
Microsemi Corporation
A3P1000L-FGG144
Microsemi Corporation
LCMXO2-2000UHE-6FG484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP3SE110F780I4L
Intel
EP3C25F324I7N
Intel