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Herstellerteilenummer | LAH 125-P |
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Zukünftige Teilenummer | FT-LAH 125-P |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | LAH |
LAH 125-P Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Closed Loop |
Strommessung | 125A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Current |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 100kHz |
Linearität | ±0.15% |
Richtigkeit | ±0.41% |
Spannungsversorgung | ±12V ~ 15V |
Reaktionszeit | 1µs |
Strom - Versorgung (max.) | 144mA |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAH 125-P Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | LAH 125-P-FT |
F02P050S05
Tamura
F01P015S05L
Tamura
F01P025S05L
Tamura
F01P006S05L
Tamura
F01P015S05
Tamura
F01P006S05
Tamura
F01P025S05
Tamura
F01P050S05
Tamura
F01P050S05L
Tamura
SI8501-B-GM
Silicon Labs
A54SX08A-2TQG144
Microsemi Corporation
M1A3P1000L-1FGG484I
Microsemi Corporation
LFE2M70SE-6FN1152C
Lattice Semiconductor Corporation
A3P250L-VQ100I
Microsemi Corporation
5SGXEA7K2F35I3L
Intel
XC5VLX110-3FFG1760C
Xilinx Inc.
XC6SLX16-2CPG196I
Xilinx Inc.
LCMXO2-7000HE-4FG484C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE3-17EA-8FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CE55F29C9L
Intel