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Texas Instruments SN74ABT8646DW

MFG-Teilenummer
SN74ABT8646DW
verfügbare Anzahl
16360 Stücke
Referenzpreis
USD 8.432
Unser Preis
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Versanddatum
Wir können heute ausliefern
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
74ABT IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
RoHS-konform (bleifrei)
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL)
1 (unbegrenzt)
Datumscode (D / C)
Neu
Produktkategorie
Logik - Spezialitätslogik
Lagerressource
Franchise-Händler
Garantie
360 Tage Qualitätsgarantie
Datenblatt
SN74ABT8646DW.pdf
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SN74ABT8646DW Spezifikationen

Herstellerteilenummer SN74ABT8646DW
Zukünftige Teilenummer FT-SN74ABT8646DW
SPQ / MOQ kontaktiere uns
Verpackungsmaterial Reel/Tray/Tube/Others
Serie 74ABT
SN74ABT8646DW Status (Lebenszyklus) Auf Lager
Teilestatus Active
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / fall 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package 28-SOIC
Herkunftsland USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74ABT8646DW Gewicht kontaktiere uns
Ersatzteilnummer SN74ABT8646DW-FT

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