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Texas Instruments SN74ABTH182646APM

MFG-Teilenummer
SN74ABTH182646APM
verfügbare Anzahl
60550 Stücke
Referenzpreis
USD 16.144
Unser Preis
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Versanddatum
Wir können heute ausliefern
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
74ABTH IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
RoHS-konform (bleifrei)
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL)
1 (unbegrenzt)
Datumscode (D / C)
Neu
Produktkategorie
Logik - Spezialitätslogik
Lagerressource
Franchise-Händler
Garantie
360 Tage Qualitätsgarantie
Datenblatt
SN74ABTH182646APM.pdf
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SN74ABTH182646APM Spezifikationen

Herstellerteilenummer SN74ABTH182646APM
Zukünftige Teilenummer FT-SN74ABTH182646APM
SPQ / MOQ kontaktiere uns
Verpackungsmaterial Reel/Tray/Tube/Others
Serie 74ABTH
SN74ABTH182646APM Status (Lebenszyklus) Auf Lager
Teilestatus Active
Logiktyp Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / fall 64-LQFP
Supplier Device Package 64-LQFP (10x10)
Herkunftsland USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74ABTH182646APM Gewicht kontaktiere uns
Ersatzteilnummer SN74ABTH182646APM-FT

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