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Herstellerteilenummer | SN74ABTH182652APM |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74ABTH182652APM |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74ABTH |
SN74ABTH182652APM Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74ABTH182652APM Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74ABTH182652APM-FT |
MC10H332PG
ON Semiconductor
MC14008BDR2G
ON Semiconductor
74HC283D,652
NXP USA Inc.
74HC283D,653
NXP USA Inc.
74HC283D/AUJ
NXP USA Inc.
MC14008BDR2
ON Semiconductor
N74F283D,602
NXP USA Inc.
N74F283D,623
NXP USA Inc.
N74F786D,602
NXP USA Inc.
N74F786D,623
NXP USA Inc.
XC4005E-3TQ144I
Xilinx Inc.
EP1C3T144C8
Intel
XC2S200-6FGG256C
Xilinx Inc.
APA300-FG256A
Microsemi Corporation
5SGXEB6R1F43C2LN
Intel
A42MX24-1PL84M
Microsemi Corporation
A42MX09-3PQ160I
Microsemi Corporation
LFE2M20SE-6FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-35SE-5FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE5U-12F-7BG256C
Lattice Semiconductor Corporation