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Herstellerteilenummer | SN74ABTH182652APM |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74ABTH182652APM |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74ABTH |
SN74ABTH182652APM Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74ABTH182652APM Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74ABTH182652APM-FT |
MC10H332PG
ON Semiconductor
MC14008BDR2G
ON Semiconductor
74HC283D,652
NXP USA Inc.
74HC283D,653
NXP USA Inc.
74HC283D/AUJ
NXP USA Inc.
MC14008BDR2
ON Semiconductor
N74F283D,602
NXP USA Inc.
N74F283D,623
NXP USA Inc.
N74F786D,602
NXP USA Inc.
N74F786D,623
NXP USA Inc.
EP2C5T144C6N
Intel
XC2VP30-7FGG676C
Xilinx Inc.
XC3SD3400A-4FG676I
Xilinx Inc.
APA1000-CQ208B
Microsemi Corporation
5SGXEABN2F45I2L
Intel
XC2VP40-6FF1148I
Xilinx Inc.
XC4VFX40-11FF672I
Xilinx Inc.
A54SX16A-FGG144A
Microsemi Corporation
AGL125V2-FG144
Microsemi Corporation
AGL600V2-FG144I
Microsemi Corporation