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Herstellerteilenummer | SN74ABTH18646APM |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74ABTH18646APM |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74ABTH |
SN74ABTH18646APM Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74ABTH18646APM Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74ABTH18646APM-FT |
MC100EP17DWR2
ON Semiconductor
MC100EP17DWR2G
ON Semiconductor
MC10EP17DW
ON Semiconductor
MC10EP17DWG
ON Semiconductor
MC10EP17DWR2
ON Semiconductor
MC10EP17DWR2G
ON Semiconductor
SY100EL17VZC
Microchip Technology
SY100EL17VZC-TR
Microchip Technology
SY100EL17VZI
Microchip Technology
SY100EL17VZI-TR
Microchip Technology
XCKU040-L1FBVA900I
Xilinx Inc.
XCS30XL-4VQ100I
Xilinx Inc.
XC2S50E-6PQG208C
Xilinx Inc.
LCMXO3LF-9400C-6BG484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SGX360KF40C2N
Intel
5SGXEA7N3F45I3L
Intel
EP4SGX360KF43C4N
Intel
XC4028XL-3HQ208I
Xilinx Inc.
A54SX08-2FGG144
Microsemi Corporation
EP20K200EQI240-2N
Intel