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Herstellerteilenummer | SN74ABTH18652APM |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74ABTH18652APM |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74ABTH |
SN74ABTH18652APM Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74ABTH18652APM Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74ABTH18652APM-FT |
MC10EP17DW
ON Semiconductor
MC10EP17DWG
ON Semiconductor
MC10EP17DWR2
ON Semiconductor
MC10EP17DWR2G
ON Semiconductor
SY100EL17VZC
Microchip Technology
SY100EL17VZC-TR
Microchip Technology
SY100EL17VZI
Microchip Technology
SY100EL17VZI-TR
Microchip Technology
74F381PC
ON Semiconductor
74F382PC
ON Semiconductor
EX64-TQG100
Microsemi Corporation
EP1SGX25CF672C5N
Intel
EP4CE55F23C9LN
Intel
EP1K50FC484-2N
Intel
5SGXEABK2H40C2L
Intel
XC7VX485T-2FFG1158I
Xilinx Inc.
XC7A200T-1FFG1156I
Xilinx Inc.
LFE2M50E-6FN900I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-20SE-6FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP1S25F780C5
Intel