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Herstellerteilenummer | SN74BCT8240ADWRE4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8240ADWRE4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8240ADWRE4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Supplier Device Package | 24-SOIC |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8240ADWRE4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8240ADWRE4-FT |
SSTV16857CG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857CGLN
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857CGLNT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857CGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
LCMXO2-2000ZE-3TG100C
Lattice Semiconductor Corporation
XC4008E-3PQ208C
Xilinx Inc.
M1AFS600-1FG484K
Microsemi Corporation
EPF10K200SFC484-1N
Intel
EP3C10F256C8
Intel
10AX032E2F29I2LG
Intel
5SGSMD5H2F35I3L
Intel
5CEBA9F23C8N
Intel
EP4SGX230DF29C4N
Intel
EPF6010AFC100-3
Intel