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Herstellerteilenummer | SN74BCT8240ADWRE4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8240ADWRE4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8240ADWRE4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Supplier Device Package | 24-SOIC |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8240ADWRE4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8240ADWRE4-FT |
SSTV16857CG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857CGLN
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857CGLNT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857CGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
XCKU040-L1FBVA900I
Xilinx Inc.
XCS30XL-4VQ100I
Xilinx Inc.
XC2S50E-6PQG208C
Xilinx Inc.
LCMXO3LF-9400C-6BG484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SGX360KF40C2N
Intel
5SGXEA7N3F45I3L
Intel
EP4SGX360KF43C4N
Intel
XC4028XL-3HQ208I
Xilinx Inc.
A54SX08-2FGG144
Microsemi Corporation
EP20K200EQI240-2N
Intel