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Herstellerteilenummer | SN74BCT8240ANTG4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8240ANTG4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8240ANTG4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8240ANTG4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8240ANTG4-FT |
SSTVF16857AGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVF16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGV,118
NXP USA Inc.
SN74ABTE16245DL
Texas Instruments
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
EX64-TQG100
Microsemi Corporation
EP1SGX25CF672C5N
Intel
EP4CE55F23C9LN
Intel
EP1K50FC484-2N
Intel
5SGXEABK2H40C2L
Intel
XC7VX485T-2FFG1158I
Xilinx Inc.
XC7A200T-1FFG1156I
Xilinx Inc.
LFE2M50E-6FN900I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-20SE-6FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP1S25F780C5
Intel