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Herstellerteilenummer | SN74BCT8240ANT |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8240ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8240ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8240ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8240ANT-FT |
SSTVF16857AGLFT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVF16857AGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVF16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGV,118
NXP USA Inc.
SN74ABTE16245DL
Texas Instruments
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
A54SX32A-FG144M
Microsemi Corporation
EP2C8F256C8N
Intel
5SGXMA7K3F40C4
Intel
10M02SCU169I7G
Intel
XC7VX485T-1FFG1930I
Xilinx Inc.
M7A3P1000-2FGG144I
Microsemi Corporation
LCMXO3L-1300E-6MG121I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX066K3F35I2SGES
Intel
10AX090S1F45I1SG
Intel
EP4CE115F29C9LN
Intel