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Herstellerteilenummer | SN74BCT8244ANTG4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8244ANTG4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8244ANTG4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8244ANTG4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8244ANTG4-FT |
SSTVF16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGV,118
NXP USA Inc.
SN74ABTE16245DL
Texas Instruments
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
AGL015V5-QNG68
Microsemi Corporation
XC7A100T-L1FTG256I
Xilinx Inc.
XC7A15T-1CSG325I
Xilinx Inc.
10M50DCF484C7G
Intel
5SGXEA3K3F40C2L
Intel
5SGSMD6N3F45C4N
Intel
LFE2-50E-7F484C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX057K3F40E2LG
Intel
EP1K100QC208-1N
Intel
EP20K200QC208-2
Intel