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Herstellerteilenummer | SN74BCT8244ANT |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8244ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8244ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8244ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8244ANT-FT |
SSTVF16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGV,118
NXP USA Inc.
SN74ABTE16245DL
Texas Instruments
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
LCMXO2-7000ZE-1TG144I
Lattice Semiconductor Corporation
A1020B-1PQG100C
Microsemi Corporation
XC3SD3400A-4CSG484LI
Xilinx Inc.
5SGXEA5N1F40C2LN
Intel
5SGSMD5H1F35C2N
Intel
XC5VLX85T-1FFG1136I
Xilinx Inc.
LFE2-70E-7FN672C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX115H1F34E1SG
Intel
EPF10K30EQI208-3
Intel
EP2S130F1020C5N
Intel