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Herstellerteilenummer | SN74BCT8244ANT |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8244ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8244ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with Buffers |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8244ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8244ANT-FT |
SSTVF16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGV,118
NXP USA Inc.
SN74ABTE16245DL
Texas Instruments
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
XA3S100E-4VQG100Q
Xilinx Inc.
XCS30XL-5PQ208C
Xilinx Inc.
AX250-2FGG484
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-4300C-5BG400I
Lattice Semiconductor Corporation
EPF10K130EFC672-2
Intel
EP4CGX15BN11C8N
Intel
A54SX32A-1FGG144I
Microsemi Corporation
LCMXO2-4000HC-5FG484C
Lattice Semiconductor Corporation
5CGXFC7D7F31C8N
Intel
5AGXMA5G4F35C5N
Intel