Zuhause / Produkte / Integrierte Schaltungen (ICs) / Logik - Spezialitätslogik / SN74BCT8373ADWR
Herstellerteilenummer | SN74BCT8373ADWR |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8373ADWR |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8373ADWR Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Latches |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Supplier Device Package | 24-SOIC |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ADWR Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8373ADWR-FT |
SSTV16857CGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
SSTVA16857AG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLF
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLFT
IDT, Integrated Device Technology Inc
XCV400E-7FG676I
Xilinx Inc.
XC7A12T-1CSG325C
Xilinx Inc.
EPF6010ANTC100-1
Intel
EP2C15AF256C7N
Intel
EP4SGX290KF43C3
Intel
A42MX16-PL84I
Microsemi Corporation
A3P250-1FGG144I
Microsemi Corporation
LFE2M50E-5FN672I
Lattice Semiconductor Corporation
5CGTFD7C5F23C7N
Intel
EPF10K100EQC240-2
Intel