Zuhause / Produkte / Integrierte Schaltungen (ICs) / Logik - Spezialitätslogik / SN74BCT8373ANT
Herstellerteilenummer | SN74BCT8373ANT |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8373ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8373ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Latches |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8373ANT-FT |
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
EPF6016TC144-3
Intel
EX256-TQG100A
Microsemi Corporation
XC6SLX45-N3FGG676C
Xilinx Inc.
XCV1600E-7FG900I
Xilinx Inc.
A54SX32A-TQ176M
Microsemi Corporation
5SGXEB6R1F40C2LN
Intel
5SGXEB6R3F40I4N
Intel
A42MX24-3TQG176I
Microsemi Corporation
AGL250V2-FG144
Microsemi Corporation
10AX090U4F45I3SG
Intel