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Texas Instruments SN74BCT8374ADWRE4

Name: SN74BCT8374ADWRE4
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74BCT8374ADWRE4
Availability: InStock
Rating: 4.7 (696 reviews)

MFG-Teilenummer: SN74BCT8374ADWRE4

verfügbare Anzahl: 64160 Stücke

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Hersteller: Texas Instruments

Kurze Beschreibung: 74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Bleifreier Status / RoHS-Status: RoHS-konform (bleifrei)

Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL): 1 (unbegrenzt)

Datumscode (D / C): Neu

Produktkategorie: Logik - Spezialitätslogik

Lagerressource: Franchise-Händler

Garantie: 360 Tage Qualitätsgarantie

Datenblatt: SN74BCT8374ADWRE4.pdf

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SN74BCT8374ADWRE4 Spezifikationen

Herstellerteilenummer	SN74BCT8374ADWRE4
Zukünftige Teilenummer	FT-SN74BCT8374ADWRE4
SPQ / MOQ	kontaktiere uns
Verpackungsmaterial	Reel/Tray/Tube/Others
Serie	74BCT
SN74BCT8374ADWRE4 Status (Lebenszyklus)	Auf Lager
Teilestatus	Obsolete
Logiktyp	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung	4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits	8
Betriebstemperatur	0°C ~ 70°C
Befestigungsart	Surface Mount
Paket / fall	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package	24-SOIC
Herkunftsland	USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ADWRE4 Gewicht	kontaktiere uns
Ersatzteilnummer	SN74BCT8374ADWRE4-FT

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