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SN74BCT8374ADW Image

Texas Instruments SN74BCT8374ADW

MFG-Teilenummer
SN74BCT8374ADW
verfügbare Anzahl
98830 Stücke
Referenzpreis
USD 8.576
Unser Preis
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Versanddatum
Wir können heute ausliefern
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
RoHS-konform (bleifrei)
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL)
1 (unbegrenzt)
Datumscode (D / C)
Neu
Produktkategorie
Logik - Spezialitätslogik
Lagerressource
Franchise-Händler
Garantie
360 Tage Qualitätsgarantie
Datenblatt
SN74BCT8374ADW.pdf
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SN74BCT8374ADW Spezifikationen

Herstellerteilenummer SN74BCT8374ADW
Zukünftige Teilenummer FT-SN74BCT8374ADW
SPQ / MOQ kontaktiere uns
Verpackungsmaterial Reel/Tray/Tube/Others
Serie 74BCT
SN74BCT8374ADW Status (Lebenszyklus) Auf Lager
Teilestatus Active
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / fall 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package 24-SOIC
Herkunftsland USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ADW Gewicht kontaktiere uns
Ersatzteilnummer SN74BCT8374ADW-FT

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