Zuhause / Produkte / Integrierte Schaltungen (ICs) / Logik - Spezialitätslogik / SN74BCT8374ANT
Herstellerteilenummer | SN74BCT8374ANT |
---|---|
Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8374ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8374ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8374ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8374ANT-FT |
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
SN74LVCE161284DLR
Texas Instruments
A54SX16A-1TQG144M
Microsemi Corporation
XC3S1000-5FGG320C
Xilinx Inc.
A54SX32A-FG256
Microsemi Corporation
5SGXEA7N1F40C2
Intel
EP4SGX290NF45C3N
Intel
5SGXMA4K3F35C2N
Intel
LFE2-20SE-6F672C
Lattice Semiconductor Corporation
5AGXMA3D6F31C6N
Intel
EP2S90F780I4
Intel
EP1K10QC208-2N
Intel