Zuhause / Produkte / Integrierte Schaltungen (ICs) / Logik - Spezialitätslogik / SN74BCT8374ANT
Herstellerteilenummer | SN74BCT8374ANT |
---|---|
Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8374ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8374ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8374ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8374ANT-FT |
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
SN74LVCE161284DLR
Texas Instruments
XCV400E-7FG676I
Xilinx Inc.
XC7A12T-1CSG325C
Xilinx Inc.
EPF6010ANTC100-1
Intel
EP2C15AF256C7N
Intel
EP4SGX290KF43C3
Intel
A42MX16-PL84I
Microsemi Corporation
A3P250-1FGG144I
Microsemi Corporation
LFE2M50E-5FN672I
Lattice Semiconductor Corporation
5CGTFD7C5F23C7N
Intel
EPF10K100EQC240-2
Intel