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Herstellerteilenummer | SN74BCT8374ANT |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74BCT8374ANT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74BCT |
SN74BCT8374ANT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Obsolete |
Logiktyp | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
Versorgungsspannung | 4.5V ~ 5.5V |
Anzahl der Bits | 8 |
Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Supplier Device Package | 24-PDIP |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8374ANT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74BCT8374ANT-FT |
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADL
Texas Instruments
SN74TVC16222ADLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLG4
Texas Instruments
74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
SN74LVCE161284DLR
Texas Instruments
XCS10XL-4TQ144C
Xilinx Inc.
APA750-FG896I
Microsemi Corporation
10M16DCF256A7G
Intel
5SGXEA4K2F40I2LN
Intel
EP3C25E144C7
Intel
5SGXEB9R2H43I2N
Intel
XC5VLX220-2FFG1760I
Xilinx Inc.
XC4VFX20-11FF672I
Xilinx Inc.
LFE3-70EA-7LFN672I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX115N2F45E1SG
Intel