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Texas Instruments SN74LVTH182512DGGR

MFG-Teilenummer
SN74LVTH182512DGGR
verfügbare Anzahl
87100 Stücke
Referenzpreis
USD 3.55264
Unser Preis
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Versanddatum
Wir können heute ausliefern
Hersteller
Texas Instruments
Kurze Beschreibung
74LVTH IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Bleifreier Status / RoHS-Status
RoHS-konform (bleifrei)
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsgrad (MSL)
1 (unbegrenzt)
Datumscode (D / C)
Neu
Produktkategorie
Logik - Spezialitätslogik
Lagerressource
Franchise-Händler
Garantie
360 Tage Qualitätsgarantie
Datenblatt
SN74LVTH182512DGGR.pdf
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SN74LVTH182512DGGR Spezifikationen

Herstellerteilenummer SN74LVTH182512DGGR
Zukünftige Teilenummer FT-SN74LVTH182512DGGR
SPQ / MOQ kontaktiere uns
Verpackungsmaterial Reel/Tray/Tube/Others
Serie 74LVTH
SN74LVTH182512DGGR Status (Lebenszyklus) Auf Lager
Teilestatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / fall 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Supplier Device Package 64-TSSOP
Herkunftsland USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74LVTH182512DGGR Gewicht kontaktiere uns
Ersatzteilnummer SN74LVTH182512DGGR-FT

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