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Herstellerteilenummer | SN74LVTH182646APM |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74LVTH182646APM |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74LVTH |
SN74LVTH182646APM Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74LVTH182646APM Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74LVTH182646APM-FT |
SY100EL17VZI
Microchip Technology
SY100EL17VZI-TR
Microchip Technology
74F381PC
ON Semiconductor
74F382PC
ON Semiconductor
MC10H332P
ON Semiconductor
MC10H332PG
ON Semiconductor
MC14008BDR2G
ON Semiconductor
74HC283D,652
NXP USA Inc.
74HC283D,653
NXP USA Inc.
74HC283D/AUJ
NXP USA Inc.
AT40K20AL-1BQU
Microchip Technology
XC2S50-5PQ208C
Xilinx Inc.
A42MX24-1PQG208M
Microsemi Corporation
A54SX16A-PQ208A
Microsemi Corporation
EP3SL70F484I3
Intel
XC5VLX110-2FF1760I
Xilinx Inc.
XC4010E-2HQ208I
Xilinx Inc.
XC6VHX250T-1FFG1154I
Xilinx Inc.
LFE3-70EA-7FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX090S3F45E2SG
Intel