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Herstellerteilenummer | SN74LVTH18502APMG4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74LVTH18502APMG4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74LVTH |
SN74LVTH18502APMG4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74LVTH18502APMG4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74LVTH18502APMG4-FT |
MC14008BDR2G
ON Semiconductor
74HC283D,652
NXP USA Inc.
74HC283D,653
NXP USA Inc.
74HC283D/AUJ
NXP USA Inc.
MC14008BDR2
ON Semiconductor
N74F283D,602
NXP USA Inc.
N74F283D,623
NXP USA Inc.
N74F786D,602
NXP USA Inc.
N74F786D,623
NXP USA Inc.
SY100EL16VDZC
Microchip Technology
A42MX36-BGG272I
Microsemi Corporation
EP20K200FI484-2N
Intel
10CL025YE144C6G
Intel
XC5VLX50-1FFG324C
Xilinx Inc.
XC7VX980T-1FFG1926I
Xilinx Inc.
LFE2-6E-6FN256C
Lattice Semiconductor Corporation
5CGXBC4C7U19C8N
Intel
10M04SAM153I7G
Intel
EP4CE30F29I7
Intel
EP20K300EQC208-3
Intel