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Herstellerteilenummer | SN74LVTH18646APMG4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74LVTH18646APMG4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74LVTH |
SN74LVTH18646APMG4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74LVTH18646APMG4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74LVTH18646APMG4-FT |
74HC283D/AUJ
NXP USA Inc.
MC14008BDR2
ON Semiconductor
N74F283D,602
NXP USA Inc.
N74F283D,623
NXP USA Inc.
N74F786D,602
NXP USA Inc.
N74F786D,623
NXP USA Inc.
SY100EL16VDZC
Microchip Technology
SY100EL16VDZC TR
Microchip Technology
SY100EL16VDZG
Microchip Technology
SY100EL16VDZG-TR
Microchip Technology
XCKU040-3FBVA676E
Xilinx Inc.
M1A3PE3000L-FG484I
Microsemi Corporation
EP4CE75F23C6N
Intel
10AX027H2F34I2SG
Intel
5SEE9F45I4N
Intel
LFXP15C-3F256C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-35E-6F484C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE3-17EA-7FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
LFXP2-30E-6F484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP1K100QI208-2N
Intel