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Herstellerteilenummer | SN74LVTH18646APMG4 |
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Zukünftige Teilenummer | FT-SN74LVTH18646APMG4 |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | 74LVTH |
SN74LVTH18646APMG4 Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
Versorgungsspannung | 2.7V ~ 3.6V |
Anzahl der Bits | 18 |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Befestigungsart | Surface Mount |
Paket / fall | 64-LQFP |
Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74LVTH18646APMG4 Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | SN74LVTH18646APMG4-FT |
74HC283D/AUJ
NXP USA Inc.
MC14008BDR2
ON Semiconductor
N74F283D,602
NXP USA Inc.
N74F283D,623
NXP USA Inc.
N74F786D,602
NXP USA Inc.
N74F786D,623
NXP USA Inc.
SY100EL16VDZC
Microchip Technology
SY100EL16VDZC TR
Microchip Technology
SY100EL16VDZG
Microchip Technology
SY100EL16VDZG-TR
Microchip Technology
XC4013-5PQ208C
Xilinx Inc.
A10V20B-PLG68C
Microsemi Corporation
AGLN250V2-VQ100
Microsemi Corporation
EP2C20F484C6N
Intel
EP4CE15E22C8N
Intel
A1010B-2PLG44I
Microsemi Corporation
XC7A75T-L2CSG324E
Xilinx Inc.
AGL600V2-FGG144T
Microsemi Corporation
LFXP2-17E-7FTN256C
Lattice Semiconductor Corporation
EPF10K100EQC240-2X
Intel