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Herstellerteilenummer | HAC 200-S |
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Zukünftige Teilenummer | FT-HAC 200-S |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | HAC |
HAC 200-S Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Open Loop |
Strommessung | 200A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Voltage |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 50kHz |
Linearität | ±1% |
Richtigkeit | ±1% |
Spannungsversorgung | ±15V |
Reaktionszeit | 7µs |
Strom - Versorgung (max.) | 18mA |
Betriebstemperatur | -10°C ~ 80°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Chassis Mount |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAC 200-S Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | HAC 200-S-FT |
LA 205-S
LEM USA Inc.
LA 150-TP
LEM USA Inc.
LA 130-P
LEM USA Inc.
LA 100-TP
LEM USA Inc.
LA 55-P
LEM USA Inc.
LA 25-NP
LEM USA Inc.
LA 25-NP/SP8
LEM USA Inc.
LA 20-PB
LEM USA Inc.
LA 125-P/SP4
LEM USA Inc.
LA 100-P
LEM USA Inc.
XC2S150-5FG256I
Xilinx Inc.
XC7S25-1FTGB196I
Xilinx Inc.
XA7S50-2FGGA484I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
AFS090-1FG256
Microsemi Corporation
5SGXEA3K1F35C1N
Intel
EP2SGX90EF1152I4N
Intel
XC6SLX25T-2CSG324I
Xilinx Inc.
AX1000-FGG676M
Microsemi Corporation
LFE2-35SE-6F484I
Lattice Semiconductor Corporation