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Herstellerteilenummer | HAS 300-P |
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Zukünftige Teilenummer | FT-HAS 300-P |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | HAS |
HAS 300-P Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Open Loop |
Strommessung | 300A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Voltage |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 50kHz |
Linearität | ±1% |
Richtigkeit | ±1% |
Spannungsversorgung | ±15V |
Reaktionszeit | 3µs |
Strom - Versorgung (max.) | 15mA |
Betriebstemperatur | -10°C ~ 80°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAS 300-P Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | HAS 300-P-FT |
LAH 25-NP
LEM USA Inc.
LAH 100-P
LEM USA Inc.
LAH 50-P
LEM USA Inc.
LA200-P
LEM USA Inc.
LA 205-S
LEM USA Inc.
LA 150-TP
LEM USA Inc.
LA 130-P
LEM USA Inc.
LA 100-TP
LEM USA Inc.
LA 55-P
LEM USA Inc.
LA 25-NP
LEM USA Inc.
A54SX08A-2TQG144
Microsemi Corporation
M1A3P1000L-1FGG484I
Microsemi Corporation
LFE2M70SE-6FN1152C
Lattice Semiconductor Corporation
A3P250L-VQ100I
Microsemi Corporation
5SGXEA7K2F35I3L
Intel
XC5VLX110-3FFG1760C
Xilinx Inc.
XC6SLX16-2CPG196I
Xilinx Inc.
LCMXO2-7000HE-4FG484C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE3-17EA-8FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CE55F29C9L
Intel