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Herstellerteilenummer | LAH 25-NP |
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Zukünftige Teilenummer | FT-LAH 25-NP |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | LAH |
LAH 25-NP Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Closed Loop |
Strommessung | 8A, 12A, 25A (Selectable) |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Current |
Empfindlichkeit | - |
Frequenz | DC ~ 200kHz |
Linearität | ±0.2% |
Richtigkeit | ±0.3% |
Spannungsversorgung | ±12V ~ 15V |
Reaktionszeit | 0.5µs |
Strom - Versorgung (max.) | 35mA |
Betriebstemperatur | -25°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAH 25-NP Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | LAH 25-NP-FT |
HTFS 200-P
LEM USA Inc.
HTFS 400-P
LEM USA Inc.
HTFS 800-P
LEM USA Inc.
HTA-300-S
LEM USA Inc.
HTA 1000S
LEM USA Inc.
HO 10-P
LEM USA Inc.
HO 6-P
LEM USA Inc.
HO 25-P
LEM USA Inc.
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
XC3S50-5TQG144C
Xilinx Inc.
LCMXO2-4000HE-4TG144C
Lattice Semiconductor Corporation
AT40K20AL-1BQC
Microchip Technology
LCMXO2280C-4TN100C
Lattice Semiconductor Corporation
XCKU035-L1FBVA900I
Xilinx Inc.
M1AGL1000V2-FGG484
Microsemi Corporation
A3P250-PQG208I
Microsemi Corporation
EP1K10TC100-2N
Intel
LFE3-17EA-7LFN484I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX60CF780C4N
Intel