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Herstellerteilenummer | LESR 50-NP KIT |
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Zukünftige Teilenummer | FT-LESR 50-NP KIT |
SPQ / MOQ | kontaktiere uns |
Verpackungsmaterial | Reel/Tray/Tube/Others |
Serie | LESR |
LESR 50-NP KIT Status (Lebenszyklus) | Auf Lager |
Teilestatus | Active |
Zum Messen | AC/DC |
Sensorart | Hall Effect, Closed Loop |
Strommessung | 50A |
Anzahl der Kanäle | 1 |
Ausgabe | Ratiometric, Voltage |
Empfindlichkeit | 12.5mV/A |
Frequenz | 300kHz |
Linearität | ±0.1% |
Richtigkeit | ±1.25% |
Spannungsversorgung | 4.75V ~ 5.25V |
Reaktionszeit | 400ns |
Strom - Versorgung (max.) | 51.3mA |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 105°C (TA) |
Polarisation | Bidirectional |
Befestigungsart | Through Hole |
Paket / fall | Module |
- | |
Herkunftsland | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LESR 50-NP KIT Gewicht | kontaktiere uns |
Ersatzteilnummer | LESR 50-NP KIT-FT |
LA 55-TP/SP27
LEM USA Inc.
LA 305-S
LEM USA Inc.
LA 150-P
LEM USA Inc.
HTR 300-SB
LEM USA Inc.
HTFS 200-P
LEM USA Inc.
HTFS 400-P
LEM USA Inc.
HTFS 800-P
LEM USA Inc.
HTA-300-S
LEM USA Inc.
HTA 1000S
LEM USA Inc.
HO 10-P
LEM USA Inc.
XC3S50-5TQG144C
Xilinx Inc.
LCMXO2-4000HE-4TG144C
Lattice Semiconductor Corporation
AT40K20AL-1BQC
Microchip Technology
LCMXO2280C-4TN100C
Lattice Semiconductor Corporation
XCKU035-L1FBVA900I
Xilinx Inc.
M1AGL1000V2-FGG484
Microsemi Corporation
A3P250-PQG208I
Microsemi Corporation
EP1K10TC100-2N
Intel
LFE3-17EA-7LFN484I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX60CF780C4N
Intel